在三坐標(biāo)平板上使用的三坐標(biāo)測量儀可測量高精度的幾何零件和曲面；測量復(fù)雜形狀的機械零部件；檢測自由曲面；可選用接觸式或非接觸式測頭進行連續(xù)掃描。三坐標(biāo)測量是指在一個六面體的空間范圍內(nèi)，能夠測量，幾何形狀、長度及圓周分度等。

三坐標(biāo)平板使用說明：可按照工作圖的尺寸,進行劃線工作；固定量表座,然后使量表指針停在待測物表面上方,移動待測物可檢查工件面與平板面的平行度；利用平板作基準(zhǔn)面,配合正弦桿及角度規(guī),可進行角度量測；將待測物與測量表座同置于平臺上，進行高度比較測量， 后可再將其高度與標(biāo)準(zhǔn)塊規(guī)相比較。

在鑄鐵三坐標(biāo)平板上測量時要注意平臺工作面要平整光滑，不可有劃痕、碰傷、銹跡、及其他影響使用的外觀缺陷。三坐標(biāo)測量儀可定義為“一種具有可作三個方向移動的探測器，可在三個相互垂直的導(dǎo)軌上移動，此探測器以接觸或非接觸等方式傳送訊號，三個軸的位移測量系統(tǒng) ( 如光學(xué)尺 ) 經(jīng)數(shù)據(jù)處理器或計算機等計算出工件的各點坐標(biāo)(X、Y、Z)及各項功能測量的儀器”。

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